TH511 半導體C-V特性分析儀簡(jiǎn)介

簡(jiǎn)介

TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。

儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無(wú)需頻繁切換接線(xiàn)及設置參數，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線(xiàn)快速測試、自動(dòng)化集成。

CV曲線(xiàn)掃描分析能力亦能滿(mǎn)足實(shí)驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。

儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿(mǎn)足大多數功率器件測試。

功能特點(diǎn)

A.一體化測試，集成度高、體積小、效率高

一臺儀器內置了LCR數字電橋、VGS電壓源、VDS電壓源、高低壓切換矩陣以及上位機軟件，將復雜的接線(xiàn)、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統內，操作更簡(jiǎn)單。特別適合產(chǎn)線(xiàn)快速化、自動(dòng)化測試。

B.單管器件測試，10.1寸大屏，四種寄生參數同屏顯示，讓細節一覽無(wú)遺

MOSFET或IGBT最重要的四個(gè)寄生參數：Ciss、Coss、Crss、Rg，Cies、Coes、Cres、Rg均可一鍵測試，10.1寸大屏可同時(shí)將測量結果、等效電路圖、分選結果等重要參數同時(shí)顯示，一目了然。

一鍵測試單管器件器件時(shí)，無(wú)需頻繁切換測試腳位、測量參數、測量結果，大大提高了測試效率。

C.列表測試，多個(gè)、多芯、模組器件測量參數同屏顯示

TH510系列半導體C-V特性分析儀支持最多6個(gè)單管器件、6芯器件或6模組器件測試，所有測量參數通過(guò)列表掃描模式同時(shí)顯示測試結果及判斷結果。

D.曲線(xiàn)掃描功能（選件）

在MOSFET的參數中，CV特性曲線(xiàn)也是一個(gè)非常重要的指標，如下圖

TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線(xiàn)分析，可以以對數、線(xiàn)性?xún)煞N方式實(shí)現曲線(xiàn)掃描，可同時(shí)顯示多條曲線(xiàn)：同一參數、不同Vg的多條曲線(xiàn)；同一Vg、不同參數多條曲線(xiàn)。

E.接觸檢查（Contact）功能，提前排除自動(dòng)化測試隱患

F.快速通斷測試（OP_SH）,排除損壞器件

在半導體器件特性測試時(shí)，由于半器件本身是損壞件，特別是多芯器件其中一個(gè)芯已經(jīng)損壞的情況下，測試雜散電容仍有可能被為合格，而半導體器件的導通特性才是最重要的特性。

因此，對于本身導通特性不良的產(chǎn)品進(jìn)行C-V特性測試是沒(méi)有必要的，不僅僅浪費了測量時(shí)間，同時(shí)會(huì )由于C-V合格而混雜在良品里，導致成品出貨后被退回帶來(lái)?yè)p失.

TH510系列半導體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試（OP_SH）功能,可用于直接判斷器件本身導通性能。

G.模組式器件設置，支持定制

針對模組式器件如雙路（Dual）MOSFET、多組式IGBT，有些器件會(huì )有不同類(lèi)型芯片混合式封裝;TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化，常見(jiàn)模組式芯片Demo已內置，特殊芯片支持定制.

H.簡(jiǎn)單快捷設置

I.10檔分選及可編程HANDLER接口

J.支持定制化，智能固件升級方式

同惠儀器對于客戶(hù)而言是開(kāi)放的，儀器所有接口、指令集均為開(kāi)放設計，客戶(hù)可自行編程集成或進(jìn)行功能定制，定制功能若無(wú)硬件更改，可直接通過(guò)固件升級方式更新。

儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等，都可以通過(guò)升級固件(Firmware)來(lái)進(jìn)行更新，而無(wú)需返廠(chǎng)進(jìn)行。

固件升級非常智能，可以通過(guò)系統設置界面或者文件管理界面進(jìn)行，智能搜索儀器內存、外接優(yōu)盤(pán)甚至是局域網(wǎng)內升級包，并自動(dòng)進(jìn)行升級

K.技術(shù)解決Ciss、Coss、Crss、Rg產(chǎn)線(xiàn)/自動(dòng)化系統高速測試精度

同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經(jīng)驗積累，得以在產(chǎn)線(xiàn)、自動(dòng)化測試等高速高精度測試場(chǎng)合，都能保證電容、電阻等測試精度。

常規產(chǎn)線(xiàn)測試，提供標準0米測試夾具，直插器件可直接插入進(jìn)行測試，Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度高。

針對自動(dòng)化測試，由于自動(dòng)化設備測試工裝通常需要較長(cháng)連接線(xiàn)，大多自動(dòng)化設備生產(chǎn)商在延長(cháng)測試線(xiàn)時(shí)會(huì )帶來(lái)很大的精度偏差，為此，同惠設計了2米延長(cháng)線(xiàn)并內置了2米校準，保證Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度和0米測試夾具一致。

L.半導體元件寄生電容知識

在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會(huì )影響半導體的動(dòng)態(tài)特性，所以在設計半導體元件時(shí)需要考慮下列因數

在高頻電路設計中往往需要考慮二極管結電容帶來(lái)的影響；MOS管的寄生電容會(huì )影響管子的動(dòng)作時(shí)間、驅動(dòng)能力和開(kāi)關(guān)損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴(lài)性在電路設計中也是至關(guān)重要，以MOSFET為例。

M.標配附件

應用

■ 半導體元件/功率元件

二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光

電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

■ 半導體材料

晶圓切割、C-V特性分析

■ 液晶材料

彈性常數分析

■電容元件

電容器C-V特性測試及分析，電容式傳感器測試分析